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                              0512-62996345

                              TEM

                              • 產品介紹

                                  透射電子顯微鏡在材料科學 、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量,必須制備更薄的超薄切片,通常為50~100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。

                                常用方法
                                • 超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。
                                • 對于液體樣品,通常是掛預處理過的銅網上進行觀察。 

                                 技術參數
                                • 工作電壓80~200 kV
                                • TEM分析 (分辨率優于2.4?)
                                • STEM分析 (分辨率優于2?)
                                • EDS元素分析 (能量分辨率優于136eV)       
                                • 樣品尺寸:單顆粒粉末≤1um

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